發(fā)布時(shí)間： 2020-09-27 點(diǎn)擊次數(shù)： 1606次
X光測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。
X光測厚儀的特點(diǎn)：
1、測量通過電腦軟件進(jìn)行操作，方便直觀；
2、除平板形外，還可以測量圓形、棒形（細(xì)線）等各種形狀；
3、可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層；
4、可對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，并能輸入電腦進(jìn)行共同管理；
5、可制作非破壞式膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板；
6、可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度；
7、本膜厚儀采用全對話式操作。因此，只要依照測量條件來進(jìn)行設(shè)定就可測量，非常簡單；
8、由于可儲(chǔ)存不同的測量情況，不必進(jìn)行重復(fù)設(shè)定；每種測量情況可儲(chǔ)存多個(gè)數(shù)據(jù)；
9、可設(shè)定四層鍍層，而每一層均可進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。電位圖形可通過設(shè)定光標(biāo)自動(dòng)計(jì)算多層鎳電位差及每層鎳的厚度，可方便的作成各種格式的電子文檔并打印。制作測量報(bào)告易學(xué)，易懂；
10、每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)的選擇，均可由微處理器自動(dòng)判斷、設(shè)定；
11、標(biāo)準(zhǔn)板校正值的計(jì)算和設(shè)定可自動(dòng)進(jìn)行；
12、由于分解速度差距分得很細(xì)，因此在保證測量精度的同時(shí)可大量節(jié)省測量時(shí)間；
13、可分離測量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴(kuò)散（合金）層；
14、測量臺(tái)是利用條形彈簧方式，使操作方便簡單。
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