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測(cè)厚儀適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；為什么測(cè)厚儀顯示屏無(wú)顯示？測(cè)厚儀不顯示原因：A)電源線沒(méi)連接或接觸不良。B)電源開關(guān)沒(méi)開。C)保險(xiǎn)管損壞。故障排查：A)連接好電源線。B)...

測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。...

金屬鍍層測(cè)厚儀是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。鍍層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。它采用計(jì)算機(jī)技術(shù)，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)等多項(xiàng)*技術(shù)，無(wú)需...

離子污染測(cè)試方法早來(lái)源于貝爾實(shí)驗(yàn)室，當(dāng)時(shí)僅用去離子水進(jìn)行萃取，后來(lái)經(jīng)過(guò)一些了改進(jìn)，終確定為使用異丙醇和去離子水的混合溶液進(jìn)行噴淋萃取，目前業(yè)內(nèi)主要使用離子污染測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試。離子污染測(cè)試儀主要由測(cè)試槽、循環(huán)泵、傳感器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。測(cè)試...

微蝕銅測(cè)試儀的運(yùn)作是按照四點(diǎn)電阻測(cè)試原理進(jìn)行的。DC電流的脈沖傳送至錐形探頭，然后再將這些脈沖統(tǒng)一傳送至要測(cè)試的孔中，探頭接觸器上的電壓直接通過(guò)測(cè)試孔中的銅柱，然后將其反饋至計(jì)算電阻的儀器上轉(zhuǎn)換成厚度并顯示出來(lái)。微蝕銅測(cè)試儀的產(chǎn)品說(shuō)明：功能...

測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度的時(shí)候進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)。作用如下：1：用來(lái)對(duì)膜厚儀工作狀態(tài)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性進(jìn)行校驗(yàn)。在膜厚儀測(cè)試過(guò)程中對(duì)膜厚儀運(yùn)行過(guò)程中，確認(rèn)工作狀態(tài)。防止膜厚儀故障狀態(tài)時(shí)能*時(shí)間確認(rèn)。2...

PH電極651CD又稱pH探頭、pH傳感器，英文名稱pHelectrode或pHsensor，是PH計(jì)上與被測(cè)物質(zhì)接觸的部分，用來(lái)測(cè)電極電位的裝置。通常有兩種方法測(cè)量水相溶液中的pH值，比色法(pH試紙和比色皿)和電位法。電位法是能夠?qū)崿F(xiàn)連...

X光測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合...